智能X射线衍射仪SmartLab系列，在材料结构分析领域具有广泛的应用。它能够分析众多类型的材料，如金属、无机、复合、有机、纳米及超导材料，同时涵盖粉末、块状、薄膜以及微区微量等多种形态的样品。其应用场景丰富，包括粉末样品的物相定性与定量分析、结晶化度与晶粒大小的计算、晶系与晶粒畸变的确定，以及Rietveld定量分析等。此外，薄膜样品分析也是其强项，能够提供物相、多层膜厚度、表面粗糙度及电荷密度等多方面的信息。In-Plane装置更是提供了同时测量样品垂直与深度方向结构的独特能力。同时，该仪器还适用于小角散射与纳米材料粒径分布的分析，以及微区样品的精细测量。
X射线发生器的功率高达3KW，并配备了新颖的9KW转靶，确保了测试的稳定性和准确性。测角仪采用水平测角方式，步进最小可达1/10000度，且配备了高精度的双光学编码和直接轴上定位系统，这是理学的一项专利技术。此外，测角仪还配备了程序式可变狭缝，以适应不同样品的测试需求。
该仪器能自动识别所有光学组件和样品台，简化了操作流程。独特的CBO交叉光路设计，提供了聚焦光路和高强度、高分辨率的平行光路，为各种材料的结构分析提供了有力支持。同时，还配备了小角散射测试组件（SAXS / Ultra SAXS）、多用途薄膜测试组件、微区测试组件以及理学独有的In-Plane测试组件，功能全面。
另外，入射端Ka1光学组件、高速探测器、二维面探以及智能的测量分析软件等高级配置，使得该仪器在材料结构分析领域具有卓越的性能。无论是粉末、块状、薄膜还是微区微量样品，都能得到准确、可靠的分析结果。
SmartLab规格
| 技术 | X射线衍射 (XRD) | |
|---|---|---|
| 效益 | 粉末衍射，薄膜，SAXS，面内散射，操作数测量 | |
| 技术 | 具有专家系统指导软件的自动高分辨率 θ-θ 多用途x射线衍射仪 (XRD) | |
| 属性 | 3 kW密封x射线管 CBO光学 D/teX Ultra 250硅条探测器 | |
| 选项 | PhotonMax高通量9 kw旋转阳极x射线源 面内臂 (5轴测角仪) HyPix-3000高能量分辨率2D HPAD探测器 约翰逊k α ∞ 光学 | |
| 计算机 | 外部PC、MS Windows操作系统、SmartLab Studio II软件 | |
| 尺寸 | 1300 (W) x 1880 (H) x 1300 (D) 毫米 | |
| 质量 | 约。750 kg (密封管) 850 kg (旋转阳极) | |
| 电源要求 | 1.0 ø，200-230 V 50/60Hz，40 A或3.0 ø，200 V 50/60Hz，30 A (密封管) 3.0 ø，200 V 50/60Hz，60 A (旋转阳极) | |