利用距离测量传感器实现质量控制
CHRocodile 传感器在各种工业应用中的运行能力、测量性能和可靠性已经过验证，例如光学测厚和光学测距。结合高强度 LED、高灵敏度探测器和高速电子设备以及快速以太网连接，CHRocodile 2 S 系列产品能够实现最高达 66 kHz 的测量速度。
优势
适用于各种表面和材料
无论是表面还是材料，CHRocodile 2S/2SE/2S HS 都可以出色的精度高速进行光学测厚和光学测距。
无阴影
同轴度测量确保最小阴影。借助外部光源还可以快速测量极暗的材料。无源光学探头没有电子或移动部件，与控制器分离，因此易于集成，在生产环境中具有强大的测量性能。高数值孔径光学探头以大角度进行测量。
适用于在线测量
高测量速率（可达 66 kHz）是在线检测和控制过程的理想选择。
大角度测量
即使对于大角度，普雷茨特大数值孔径光学探头仍可做到精确测量。且这种非接触式测量技术为免维护型，因为测量探头无磨损。
类型：
- CHRocodile 2 SE 带有外部光源，适用于暗表面的高速测量
- CHRocodile 2 S HS 适用于暗表面上高灵敏度的距离和厚度测量
完全符合用户测量需求的光学探头
每个单点传感器由一个控制器、一根光纤和一个光学探头组成。我们从大量光学探头中精心选择，确保定制解决方案满足客户要求。
技术数据
测量速度/秒： CHRocodile 2 S | 2 SE:测量速度达 66 kHz；CHRocodile 2 S HS 测量速度达 10000 Hz
干涉测量范围: CHRocodile 2S | 2SE: 2 µm—180 µm; CHRocodile 2 S HS: 1.5 µm - 150 µm
白光测量范围: 取决于选择的光学探头
分辨率: 3 × 10-6 × 测量范围上限
与外部设备同步: 触发输入，同步输出，5 个编码器输入