性能达到国际先进水平的国产Zeta电位仪
NS-Zeta电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科(Malvern Panalytical)颗粒表征技术后，在NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪基础上专注优化电位分析性能的新一代产品。NS-Zeta融合马尔文帕纳科恒流模式下的M3-PALS快慢场混合相位分析技术，显著提升电位测试的精度与稳定性，同时支持Zeta电位分布分析，满足纳米至微米级颗粒的Zeta电位表征需求。仪器搭载进口氦氖激光器与APD检测器等优质硬件，结合数据质量智能反馈系统及GMP合规管理功能，为药物制剂、电极浆料、矿物浮选、污水处理等工业场景提供高可靠性的分散稳定性评价方案，赋能材料表面修饰活化评价、乳液浆料稳定性预测和复杂制剂工艺配方的优化、矿物浮选及污水处理等。
技术指标
Zeta 电位范围 | • 无实际限制 |
适用测试的粒径上限 | • 不小于100μm (取决于样品) |
最大电泳速率 | • ＞+20μ.cm/V.s / ＜-20μ.cm/V.s |
测量原理 | • 电泳光散射法(ELS) |
最高样品浓度 | • 40% w/v (取决于样品及样品池) |
最小样品容积 | • 20μL |
最高样品电导率 | • 260mS/cm |
检测技术 | • 快慢场混合相位分析(M3-PALS)，恒流模式 |
激光光源 | • 高稳定He-Ne气体 激光器，波长632.8nm，功率 4mW。 |
整机激光安全 | • I类 |
检测角度 | • 13 |
检测器 | • 雪崩式光电二极管(APD)检测器，QE≥80%@632.8nm |
相关器 | • 采样时间 25ns - 8000s，多于4000通道，1011动态线性范围 |
冷凝控制 | • 干燥氮气或空气吹扫 (需外接气源) |
具有兼容 | • 具有兼容CFDA GMP《计算机化系统和确认与验证》的审计、权限管理及电子签名功能 |
温度控制范围 | • 0 - 120 ℃ |
温度控制最高精度 | • ± 0.1 ℃ |
主机尺寸 | • 322×565×245 mm (W×D×H) |
主机净重 | • 19 kg |
电源要求 | • AC 100 - 240V, 50 - 60Hz，4.0A |
功率 | • 最大值100W，典型值45W |
推荐计算机最低配置 | • Intel Core i5 2.5Ghz及以上，4GB内存，250G硬盘，显示分辨率1440×900 32bit及以上 |
计算机接口 | • USB 2.0或更高 |
推荐操作系统 | • Windows 10或Windows 11专业版 |
环境要求 | • 温度10 - 35℃，湿度：35 - 80%， 无冷凝 |
产品特性
恒流模式的 M3-PALS 快慢场混合相位检测技术
NS-Zeta 融合马尔文的 M3-PALS 技术除了可消除电渗影响外，新升级的恒流模式下 还实现了更高电导率样品测试的可能。恒流模式能有效缓解电极极化的影响，与可切换 的高频、低频混合分析模式一起，使得结果重现性更好，准确性更高，且可获得电位分 布的信息。相比上一代产品，NS-Zeta 能满足具有更高电导率的样品的 Zeta 电位和电泳 迁移率测试，同时可以提高电位样品池的使用次数。
快慢场混合相位检测 Zeta 电位分布、相位、频移及 Zeta 电压和电流图
报告可自定义多种参数输出
NS-Zeta 具有完备的 Zeta 电位分析功能。可输出 Zeta 电位、电位分布、各电位峰的 平均值和宽度等参数。
NS-Zeta 电位和电位分布的测量——ZTS1240 电位标样
硅溶胶的 Zeta 电位及分布
NS-Zeta 具有良好的电位和电位分布数据的重现性。
表面活性剂吐温 20 的 Zeta 电位及分布
NS-Zeta 可以测试 Zeta 电位绝对值极低的胶束等颗粒样品，具有 0 电位附近的颗 粒表征的识别性能，有利于识别对制剂稳定性有较大影响的因素。
典型应用
• 精细化工行业纳米材料、表活、低聚物等的开发和生产质控 |
• 药物分散体系、乳液和疫苗等制剂配方和工艺开发 |
• 脂质体和囊泡的开发 |
• 矿物堆浸及浮选 |
• 钻井泥浆及陶瓷浆料 |
• 电极浆料及助剂的稳定性表征 |
• 涂覆材料稳定性能预测 |
• 墨水、碳粉、染料和颜料性能改进 |
• 优化水处理中絮凝剂的使用 |
• 胶体、乳液、浆料稳定性评价 |
• 确定多种复杂制剂的混合、均质等加工工艺参数 |