DIL 402 Expedis Supreme 集成了热膨胀测量领域的尖端技术，为宽广应用领域内的专业级的应用而设计。DIL Expedis 系列的所有型号均基于 NanoEye 测量系统，在测量范围与精度两方面达到了新的高度。
温度范围: -180 ... 2000°C（不同炉体）
升温速率: 0 ... 100°C/min（不同炉体）
测量气氛: 动态或静态；氧化、还原、惰性、真空
样品形态: 固体、液体、粉末
样品载荷: 10mN ... 3N，可变，可调制（选配）
选配扩展功能: c-DTA®、谱图检索、速率控制烧结
量程: ±25000μm
测量分辨率: 0.1nm
测试模式: 单样品/双样品，样品长度自动检测
独创的Multitouch技术 : 标配
独创的Nanoeye位移传感及载荷控制技术: 标配
双炉体: 选配
DIL基本功能
软化点检测 软件控制的力的调整（包括：线性力，恒定力，斜变力，步阶力） 调制力 密度测量 用于温度校正和检测热效应的c-DTA® 功能 速率控制烧结 RCS 曲线识别，通过数据库对比识别未知的ΔL/L0曲线 密度测量，能够测量样品密度的连续变化，可应用于固体、液体、熔体、粘稠样品（如涂料），以及用于计算各向异性材料的体膨胀。