作为一款集现代电子光学技术与精密分析功能于一体的高端科研设备，浪声SuperSEM N10桌面式扫描电镜专为材料科学、纳米技术、生物医学及工业质量控制等多个领域而设计。
SuperSEM搭载先进的电子光学系统，集SEM与EDS技术于一身，凭借其卓越的分析性能、实时能谱伪彩成像技术以及用户友好的操作体验，可轻松实现样品表面结构与化学元素的深度分析。此外，还配备三轴样品台、光学导航等高端硬件，确保了仪器卓越的性能。
此外，其还配套了专业的数据分析软件，软件支持自动聚焦和快速扫描，以及结合了视频模式下实时观察样品元素分布的功能，不仅简化了操作流程，更确保了图像采集与分析的精确性和高效性。适用于金属、陶瓷、电池、涂层、水泥和软物质等材料分析，是科研和工业检测的得力助手。
优势
实时能谱伪彩成像
通过能谱（EDS）实时捕捉样品释放的特征X射线，扫描电镜（SEM）彻底摆脱“色盲”的局限，步入一个七彩斑斓的微观世界。这些特征X射线被转化为绚丽的伪彩色图像，仿佛为元素分布绘制了一幅生动的“元素地图”，不仅让客户直观感受到元素分布的规律与含量信息，更将微观世界的奥秘清晰呈现，一目了然。
可视化能谱分析
SuperSEM赋予您前所未有的分析自由度，让您能够随心所欲地"圈点江山"——无论是微观世界中的点线面都能精准锁定。配合强大的可视化分析算法，即使是重叠的谱峰也能被轻松"拆解"，元素分布如同"热力图"般清晰呈现，为您的材料界面布局、元素均匀性、扩散打开全新视野！
实时成分信息
与传统的扫描电镜不同，本仪器将EDS作为一种探测器一起集成在电镜上，独家开发BSE视频数据和EDS能谱数据同步处理的算法，可扫描获取多种信号同时执行元素分析，实时检测形貌与各种元素含量信息。
扫描速度快
搭载10M信号采集宽带，犹如为微观世界配备了一台"4K超高清高速摄像机"，极速扫描，让您在视频模式下可实时捕捉样品的每一帧精彩瞬间，无重影、拖影，每一个细节都它逃不过的"火眼金睛"！
预对中钨灯丝
非预对中灯丝需要用户自行组装、操作麻烦。操作不当易导致光路偏移，影响成像，耗费灯丝。预对中钨灯丝即换即用，无需调节灯丝像，操作便捷，客户可自行更换。
实时谱图对比
告别漫长等待！本系统打破传统束缚，让定量分析结果如同"直播"般实时呈现。您可以在数据采集的同时，轻松调取历史谱图进行即时对比，这种"边采边对比"的智能体验，助力您的工作效率飞升！
宽域加速电压系统
支持加速电压0–30kV任意步进可调，满足从表面形貌观察到深层成分分析的多场景需求，用户可根据样品类型与分析目标，自由调节加速电压，无需更换硬件或复杂校准，即调即用，让台式电镜的适用边界大幅拓展。
标配低真空模式
抽真空时间短，样品更换便捷，提升检测效率。高真空模式，适用于导电样品，可获得最佳分辨率和信噪比；低真空模式，适用于非导电样品(如陶瓷、高分子、生物组织)，无需喷金处理，直接观察。
一键自动调节
支持自动聚焦、自动亮度对比度调节、自动消像散，一键即可完成图像优化，显著降低操作门槛，新手也能快速上手。
丰富的探测器选择
SuperSEM装备了强大的"探测天团"，二次电子探测器、背散射电子探测器、集成式能谱仪三种探测器强强联手，为您打造全方位的微观分析体验！
体积小巧
设备体积小巧，结构紧凑，无需特装设备间和额外减震台，普通实验台即可放置，常规市电即插即用。
应用场景
材料科学
在材料科学中，SEM可清晰观察材料表面的微观形貌，如晶粒大小和分布，帮助研究人员初步了解材料结构。背散射电子探测器能根据原子序数差异区分不同材料相，为相分析提供依据。能谱探测器则用于基本的成分分析，确定材料中元素的种类和大致含量。这些功能为材料的初步研究和性能评估提供了重要的微观信息。
半导体行业
SEM主要用于对晶圆、芯片及封装结构进行微观形貌观察与缺陷分析。其应用覆盖芯片制造的前道工艺和后道封装环节，可灵活部署于实验室内或产线附近，有效缩短样品送检周期，提升工艺监控的及时性。
生命科学
SEM可用于观察细胞和生物组织的表面结构,清晰呈现细胞的轮廓、微绒毛等细节，帮助研究人员了解细胞的形态和功能。背散射电子探测器可以根据细胞成分的差异进行区分，提供细胞内部结构的初步信息。能谱探测器可用于分析细胞内元素的分布，如钙、磷等，为生物材料研究和细胞生物学研究提供基础数据。
地球科学
在地球科学中，SEM可观察矿物晶体的形态、大小和排列方式，帮助科学家推断矿物的形成环境，也能区分不同矿物成分，为岩石的成分分析提供直观图像。搭配EDS可用于精确分析矿物的元素组成，确定矿物种类。为地质学家研究地球历史和地质过程提供了重要的微观证据。
新能源材料
在新能源材料研究中，SEM为新能源材料的研发和性能优化提供了重要的微观信息。其能清晰显示电池电极材料的颗粒大小和孔隙结构，可区分不同材料相，帮助研究人员了解材料的均匀性。能谱探测器可用于分析材料成分，确保材料纯度和一致性。
金属材料
SEM可用于观察金属微观组织结构，可清晰呈现晶粒大小和晶界形态，为了解金属基本性能提供依据；可区分不同相，助力相分析。能谱探测器可分析金属成分，检测杂质元素。
工业制造
SEM主要用于质量检测和工艺优化,可检查零件表面的加工痕迹、磨损情况以及微观缺陷，确保产品精度和质量；识别材料成分差异，帮助发现杂质或材料不均匀性；进一步分析材料成分，确保符合设计要求。其有助于提高产品质量，减少次品率，优化生产流程。
规格参数
| 版本 | SuperSEM N10 | SuperSEM N10eX | SuperSEM N10eV |
| 尺寸（W×L×H） | 292×570×515 mm | 292×570×515 mm | 292×570×515 mm |
| 重量 | 55kg | 56 kg | 57kg |
| 加速电压 | 0-15 kV | 0-15 kV | 0-30 kV |
三轴自动样品台 （可选配五轴样品台） | X:50mm Y:50 mm Z:30 mm | X:50mm Y:50 mm Z:30 mm | X:50mm Y:50 mm Z:30 mm |
| 最大样品直径 | 90 mm | 90 mm | 90 mm |
| 最大放大倍率 | ≥250000x | ≥250000x | ≥250000x |
| 电子枪 | 预对中钨灯丝电子枪 | 预对中钨灯丝电子枪 | 预对中钨灯丝电子枪 |
| 探测器 | 背散射电子：高感度4分割 背散射电子检测器 | 背散射电子：高感度4分割 背散电子检测器 二次电子：二次电子检测器 EDS：实时能谱探测器 | 背散射电子：高感度4分割 背散电子检测器 二次电子：二次电子检测器 EDS：实时能谱探测器 |
| EDS参数 | / | 探测器类型：硅漂移探测器 探测面积：30mm2 元素分析范围：B（硼）-Cf（锎） | 探测器类型：硅漂移探测器 探测面积：30mm2 元素分析范围：B（硼）-Cf（锎） |
| 低真空模式 | 标配 | 标配 | 标配 |