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JH6800 CP Test System 存储芯片CP测试设备针对Memory Wafer的CP测试，具备对存储器晶圆功能测试和DC参数测试，整机测试速率高达400MHz，核心器件自研可控，可提供从探针卡到整机的一站式解决方案，全方位满足NORFLASH/NAND/DDR器件的CP测试。