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JH59150A Series 逻辑芯片自动化测试系统致力于满足自动驾驶、服务器、数据中心、人工智能等关键领域大功率(<1500W)逻辑芯片的动态老化测试。系统通过施加极致的电、热应力，提前揭示时间维度上的潜在缺陷，将芯片的卓越设计转化为经得起时间考验的可靠产品，为逻辑器件的生产筛选、工程特性分析以及寿命测试提供稳定可靠的解决方案。