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首页 > 仪器产品 > JSM-IT510 InTouchScope™ 扫描电子显微镜
JSM-IT510 InTouchScope™ 扫描电子显微镜
单价 面议对比
询价 暂无
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发货 北京付款后3天内
品牌 JEOL
过期 长期有效
更新 2025-03-20 16:45
 
详细信息

新型“Simple SEM”功能

Simple SEM功能使用户能够方便地选择SEM图像的采集条件和视场角,然后自动采集SEM图像。日常工作可以更高效地完成。

新型“低真空混合二次电子探测器(LHSED)”

这种新型探测器可收集电子和光子信号,即使在低真空条件下也能提供具有高信噪比和增强地形信息的图像。

集成扫描电子显微镜(SEM)和能量色散X射线光谱仪(EDS)系统。

SEM和EDS的集成得到了进一步发展,Live Map(实时地图)功能可以实时显示观测视场角的元素分布图。

新的“实时3D”功能

当进行SEM观察以获得非均匀性和深度信息时,可以现场构建3D图像。

实时分析功能

嵌入式EDS系统可在图像观测期间显示实时EDS光谱,以实现高效的元素分析。

新的阶段导航系统LS功能

新的阶段导航系统LS可以获得四倍于传统型号(200 mm x 200 mm)的区域光学图像。该功能使用户能够获取观测样本的光学图像,并通过简单点击光学图像移动到所需的观测区域。

Zeromag

使用我们的Zeromag功能,样本导航比以往任何时候都更简单。您可以使用光学图像或支架图形定位成像区域或指定多个视场角上的分析位置。

显示特征X射线生成深度

有助于快速了解样本的分析深度(参考)。

SMILE VIEW?实验室,能够对图像和分析数据进行综合管理。

便于在短时间内生成从收集的SEM图像到元素分析结果的所有数据报告。

JSM-IT510系列有下面4种配置:

BU(基本单元)基本类型, 高真空条件下观察
A(分析型)分析型,标配EDS能谱
LV(低真空型)低真空型,适用于高、低真空操作,配置BED
LA(低真空分析型)低真空分析型,适用于高、低真空操作,配置BED和EDS


SEM规格

分辨率高真空模式:3.0nm(30kV),15.0nm(1.0kV);低真空模式:4.0nm(30kV、BED)
放大倍数x5 至 x300,000
电子枪钨灯丝,全自动电子枪调准
加速电压0.3kV~ 30kV
LV压力调节10~650Pa
物镜光阑4档,带XY微调功能
自动功能灯丝饱和点调整、电子枪合轴调整、电子束对中调整、聚焦/散光/亮度/衬度调整
最大样品尺寸200mm直径 x 75mm高
样品台大型全对中样品台  X: 125mm  Y:100mm  Z:80mm  倾斜:-10~90o  旋转:360o
图像模式二次电子像、REF像、成分像、形貌像、阴影像
图像尺寸640 x 640、1280 x 960、 2560 x 1920、 5120 x 3840
照片辅助功能蒙太奇、简单SEM、Zeromag、实时3D
操作支持功能菜单(标准菜单/自定义菜单),测量、样品交换导航、信号深度功能、3D测量*
操作系统Win10 64位
显示器23.8英寸触控面板
语言切换日语、英语、中文(可在用户界面上操作)
真空系统全自动、TMP、RP

主要可选项

1.  背散射电子探测器BED

2.  低真空混合二次电子探测器LHSED

3.  低真空二次电子检测器LVSED

4.  能谱仪EDS

5.  波谱仪WDS

6.  电子背散射衍射图样EBSD

7.  真空预抽室LLC
8.  样品台导航系统SNS

9.  大区域样品台导航系统SNSLS

10.  样品室相机CS

11.  操作面板OP2

12.  LaB6电子枪

13.  3D分析软件SVM