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Innova-IRIS 结合了业界领先性能的AFM和布鲁克专利的针尖增强拉曼光谱（TERS）探头，能提供一整套完备、有保障的TERS解决方案。它与 Renishaw inVia 显微拉曼系统完美融合，组成一个高效且完全集成的测量平台，同时保留了每个独立组件的功能， 可用于微、纳米尺度各类性质成像，可将 AFM 的应用扩展到纳米光谱及纳米化学分析领域。
文献研究表明光路离轴反射结构是充分考虑探针尖端阴影和极化效应条件下，实现最大光捕获的最佳解决方案。Innova-IRIS 采用新型光学架构，激发光从探头的正面进入探针-样品交汇点，提供了理想的无障碍物光学路径。
布鲁克创新的样品扫描 AFM 结合Renishaw InVia 显微拉曼系统，通过联合研发设计，在扫描过程中集成了独特的光学"热点"跟踪方式，在拉曼较长信号积分时间内，可以保持探针的完整性和精确定位，能满足TERS成像的严苛要求。
Innova-IRIS 与 Renishaw InVia 的集成完全保留了 AFM 和拉曼显微镜的全部功能。单独使用时，可以采用相对各自独立的实时控制和数据分析软件。通过系统集成，可实现互补的纳米级形貌、热、电学和力学信息测量的整合。