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精确、快速的扩散氢气测量
热脱附质谱法 （TDMS ）
高灵敏度热导率检测器允许分析到亚 ppm 范围，而可选的质谱仪检出限低至 ng/g 。
准确、快速的扩散氢测量可让您避免氢脆、氢致开裂和其他代价高昂的失效
氢引起的损害是一种广泛和可怕的 现象。在焊接过程中，氢气产生于分离 水蒸气（如湿度）或焊接电弧中的碳氢化合物，以及 熔融的金属可以迅速吸收氢气。一旦进入金属， 氢原子可以迅速扩散在微观结构内 金属。可扩散氢气导致氢气诱发开裂（也已知 作为冷裂或延迟开裂），其中部件在机械应力影响下失效 - 突然和没有事先指示。因此 扩散氢的评估对于氢脆，氢气诱导或辅助开裂（HIC/HAC）或氢气延迟 断裂等破坏性影响非常重要。
G4 PHOENIX DH， 利用载气体热抽取进行快速自动提取 在各种基质中测定可扩散氢。
主要优势：
高端、长期稳定的热导检测器 （TCD）， 带专用参考气体通道， 热量 交换器和 ng/g 分析功能
独特的红外 （IR） 低热质量的炉子，用于精确控制温度， 可编程快速加热（和冷却）高达 900°C，接受大样品
可选的热电偶套件，用于直接样品温度读数
附加电阻加热炉，可提供高达 1100°C 的高温
具有10种不同体积的适合于整个分析范围的自动和可靠的气体校准单元
外部采样罐的可选接口，用于涵盖 ISO 3690 的 GC 方法
G4 带四极质谱仪 改进了检测 限制超过一个数量级，用于评估 超低可扩散氢浓度或同位素及研究 钢中不同的氢陷阱
| 规格 | 优点 | |
| 探测器 | ||
| G4 PHOENIX | 带参考通道和可调增益放大器的导热探测器 | 可靠、可调节的范围，无漂移 |
| G4 PHOENIX 质谱 | 质谱仪，m/z 范围 1-100 amu，单四极，优化的 EI 源和通道探测器 | 独特的质谱性能 |
| 炉 | ||
| 红外加热 | IR 炉 uop 至 900 oC，即石英管 30 mm，水冷，光电热电偶套件，用于直接样品温度读数 | 精确的温度控制，灵活的加热程序，接受大样本 |
| 电阻加热（选件） | 附加电阻加热炉高达 1100 oC，即石英管 18 mm | 多相双相钢中的残余氢气 |
| 载气 | 氮气 99.995% 纯度，最小 2 巴（±50 psi），99.9990% 纯度，用于微量分析 | 使用再生分子筛进行预清洗 |
| 校准气体 | 使用纯气体（H2 或 He）或经过认证的混合物（每个组件纯度为 99.999%），可自动气体剂量校准系统，可处理 10 个单独体积 | 简单、精确的气体校准，无需标准，可追溯至 p、T、V |
| 冷却水 | 1 升/分钟 = 3 巴（44 psi） | 快速冷却，标准自来水兼容，节水设计与停水阀，冷水机组也是可能的 |
| 电源 | ||
| G4 PHOENIX | 230 VAC (± 10 %), 50-60 Hz, 2200 VA | 行业标准电源和电流配置 |
| 质谱仪 | 230 VAC, 50-60 Hz, 250 VA | |
| 尺寸和重量 | ||
| G4 PHOENIX | 630 x 700 x 670 mm (宽 x 深 x 高), 重量 ~ 50 kg | |
| 质谱仪 | 630 x 640 x 480 mm (宽 x 深 x 高), 重量 ~ 60 kg |