超大景深智能成像 / 瞬间自动对焦 / 一键测量分析
独家搭配50+镜片组、高分辨率远心镜头、五轴联动设计，实现360°无死角高清观察。独家创新新型景深合成算法，500X倍真实还原微观影像。 搭配1/1.7英寸1200万像素CMOS图像传感器，实现超高分辨率观察CMOS利用率100%，达到所有像素皆为有效像素，所见即所得。
1200万超高有效像素
搭配1/1.7英寸1200万像素CMOS图像传感器，实现超高分辨率观察
CMOS利用率100%，达到所有像素皆为有效像素，所见即所得
一键式观察分析
超快速全幅自动对焦
最快 1秒，实现全幅自动对焦
开放式定制化功能
支持金相系统观测
搭配金相分析软件，可对金相组织进行判定和分析。1200 万像素可以有效区分晶格边界。景深合成功能保证金相制样不平的情况下，全视野也无模糊情况发生。
300*300mm 高精度大型平台
可自由配备 300*300mm，XYZ 3 轴高精度电动平台，满足大范围、高精度的观测要求。* 可兼容 12 寸及以下半导体晶圆圆形 / 异形载台。
支持非金属夹杂物分析
搭配非金属夹杂物分析软件，可根据国际标准进行对非金属夹杂物的自动统计与分析。
超大型平台
可自由配备超大型平台，满足PCB、极片电池、液晶面板等大型样品的观测需求。
符合国际标准的清洁度测量
搭配清洁度分析软件，可实现对发动机等进行清洁度分析。符合VDA19、ISO16232等标准。
客制化
可实现更多场景客制化，满足定制需求
观测功能 智能自适应画面调节
测量与批注功能
操作便捷、工具全面、测量精度高
内置 30+ 测量工具，实现对任意图形一键式的测量。只需在图片中， 选择需要测量的图形，即可完成点与点、点与线、线与线等图形之间的， 距离、长度、角度等多元素之间的测量需求。
快捷的批注添加
对于已经拍摄完成的图片，可在软件直接添加所需要的标记。 并且对于已经保存过的图片，亦可二次打开进行编辑。
保存功能
一键实现保存分享
只需鼠标点击一键即可完成对图片的保存，输出 TIFF、JPG 等多种格式。并且可以搭配 WORD、EXCEL 等工具输出 多种数据如测量时间、测量条件、测量数值等多元化信息。
测量结果
项目名称:芯片缺陷检测 样品名称:芯片 操作者名称:优可测
备注:
1. 该样品表面缺陷较多，单位芯片内平均 10 个以上缺陷；
2. 缺陷不良的面积、周长均超过规定范围；
3. 芯片尺寸合格；
4. 综上所述属于严重不良产品！
应用：
半导体、PCB、金属加工、生物医学、材料、刀具等