AP系列具有高精度测量，高速度采样，不挑材质稳定测量，灵活易用的优势。
AP系列拥有超小体积，超高角度特性；有高光强，真空使用等多种型号测头，可满足不同场景的检测需求。AP系列控制器具备多通道、多种通信方式，满足多种设备的数据通讯场景。
设备可广泛应用于高度，厚度，位移，轮廓，震动等测量。
超大角度特性
±48°角度特性在处理光滑表面或具有一定角度的反射情况时也能表现出色
双头测厚专业解决方案
测厚专用双头夹具搭配可视化软件辅助，可实现高效调整光轴对齐度。
在双头对射厚度测量中，如果传感器探头的光轴未正确对齐，即使目标物微微移动或倾斜，也会导致较大误差。AP 系列产品通过精准的光轴对齐，实现高精度厚度测量
小尺寸
相较传统激光位移计，体积更小巧，安装更便捷，不受空间限制
在各种环境下均可实现高精度测量（支持超高真空）
AP-5035LV 不适用有机粘合剂，可在真空状态下使用，传感器内部仅用镜头，尽可能减少渗气的产生。
“单控制器-多测量单元”连接方式
降低成本，并有效减少繁琐的连接
