通过柱面物镜将激光扩散为线激光后投射在目标物表面形成漫反射。使反射光在 CMOS 上成像后，通过检测位置及形状的变化测量位移和形状。
产品特性
4096点高超进度
高速扫描无损数据质量
Z轴超高精度
反光表面轻松测
轻巧体型
丰富测量工具
丰富型号可选
专业售后支持
应用示例
Type-c-段差
电池壳体3D外观检测
AR系列3D线激光测量仪
AR系列3D线激光测量仪
详细信息 通过柱面物镜将激光扩散为线激光后投射在目标物表面形成漫反射。使反射光在 CMOS 上成像后，通过检测位置及形状的变化测量位移和形状。 产品特性 4096点高超进度 高速扫描无损数据质量 Z轴超高精度 反光表面轻松测
轻巧体型
丰富测量工具
丰富型号可选 专业售后支持 应用示例 Type-c-段差
电池壳体3D外观检测 |